Рентгеноспектральный электронно - зондовый микроанализатор JXA8200

Эксплуатируется в рамках ЦКП «Изотопно-геохимических исследований» ИГХ СО РАН

Установлен в лаборатории рентгеновских методов анализа в 2006 году. 
Заведующий лабораторией д.т.н. Александр Львович Финкельштейн, 
тел.: (3952) 42-95-79

Область применения :
функциональные наноматериалы, минералогия, геохимия, материаловедение, изучение поверхности твердых объектов.

Технические характеристики:
анализ поверхности образцов на элементы от Be до U c содержанием элементов от десятых долей до 100 процентов из 10-13 г вещества одновременно. Ускоряющее напряжение прибора от 1 до 50 кВ, ток электронного зонда от 10-12 до 10-6 А.

W-катод, 5 волновых спектрометров с разрешением по длинам волн от 0,000072 до 0, 007118 нм в зависимости от кристалла-анализатора. Полупроводниковый спектрометр с разрешением 129 эВ, Увеличение оптического микроскопа 412, электронного микроскопа от 40 до 300 000.