Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 с атомно-силовым столиком (Россия)

 

Эксплуатируется в рамках ЦКП «Изотопно-геохимических исследований» ИГХ СО РАН

Установлен в лаборатории экспериментальной геохимии в 2004 году. 
Заведующий лабораторией д.х.н. Владимир Львович Таусон, 
тел.: (3952) 42-99-67

ckp14

 

Область применения:
позволяет проводить анализ шероховатости и других характеристик поверхности, определять высоту и форму находящихся на ней нанообъектов. Эта информация необходима для проводимых в лаборатории исследований по типоморфизму и типохимизму минеральных поверхностей, диагностике, морфологии и свойствам нано-размерных частиц в экспериментальных и природных системах.

Технические характеристики:
реализует режимы туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии в контактной моде. Увеличение от 2000 до 1000 000 раз. Размер образца 20×20×6 мм. В режиме сканирующей туннельной микроскопии прибор обеспечивает на электропроводящих образцах разрешение до 0.3 нм. В атомно-силовом режиме максимальная контролируемая разрешающая способность по XY – 2.5 нм, по Z – 1.13 нм.