|
|
Александр Финкельштейн работает в ИГХ СО РАН с 1975 года после окончания физического факультета Иркутского государственного университета. В 1987 году защитил кандидатскую диссертацию "Совершенствование рентгенофлуоресцентного силикатного анализа горных пород" по специальности "Аналитическая химия". В 2006 году защитил докторскую диссертацию "Развитие моделей возбуждения рентгеновской флуоресценции для разработки методик рентгенофлуоресцентного анализа гомогенных и гетерогенных сред" по специальности "Аналитическая химия". В 2007 году награждён благодарностью мэра г. Иркутска, в 2017 году - почетной грамотой губернатора Иркутской области. В 2022 году Александру Финкельштейну присвоено звание "Заслуженный деятель науки Российской Федерации". |
Основные публикации:
Finkelshtein A.L., Afonin V.P. Analytical approximation for calculating secondary fluorescence in x-ray fluorescence analysis of powdered materials // X-Ray Spectrometry. - 1996. - V. 25, № 5. - P. 210-214.
Finkelshtein A.L., Brjansky N. Estimating particle size effects in X-ray fluorescence spectrometry // Nuclear Instruments and Methods. B. - 2009. - V. 267. - P. 2437-2439.
Finkelshtein A.L., Chubarov V.M. X-ray fluorescence determination of the FeO/Fe2O3tot ratio in igneous rocks // X-ray Spectrometry. - 2010. - V. 39. - P. 17-21.
Finkelshtein A.L., Dergin A.A., Nepomnyashikh A.I., Amosova A.A., Chubarov V.M. X-ray fluorescence determination of boron content in glasses of lithium // Glass Physics and Chemistry. - 2022. - V. 48, № 1. - P. 6-9.
Finkelshtein A.L., Gunicheva T. N. Description of the Dependence of Intensity of X-Ray Fluorescence on the Particle Size of Powder Samples and Pulp during X-Ray Fluorescent Analysis // Inorganic Materials. - 2008. - V. 44, № 14. - P. 90-94.
Finkelshtein A.L., Gunicheva T.N., Kalughin A.G., Afonin V.P. Calculation of x‐ray fluorescence and scattered primary radiation intensitie in X‐ray fluorescence analysis of powder slurry‐like materials // X-Ray Spectrometry. - 1992. - V. 21, № 6. - P. 287-292.
Finkelshtein A.L., Mukhamedova M.M., Pashkova G.V. About the assessment of sampling error and representative sample in X-ray fluorescence analysis of mineral powders // Radiation Physics and Chemistry. - 2023. - V. 212. 111154.
Finkelshtein A.L., Pavlova T.O. Calculation of X-ray tube spectral distributions // X-Ray Spectrometry. - 1999. - V. 28, № 1. - P. 27-32.
Finkelshtein A.L., Smely R.V., Amosova A.A., Chubarov V.M. Estimation of the Biogenic Silica Content in Lacustrine Bottom Silicate Sediments by X-Ray Diffraction (XRD) and X-Ray Fluorescence (XRF) // Analytical letters. - 2022. - V. 55, № 7. - P. 1119-1130.
Finkelshtein A.L., Tatarinov V.V., Finkelstein E., Pavlova L.A., Kravtsova R.G. About the assessment of gold concentrations in tiny inclusions within sulfide mineral matrix: An electron microprobe study // X-Ray Spectrometry. - 2018. - V. 47, № 6. - P. 423-431.
Финкельштейн А.Л. К расчёту интенсивности вторичной флуоресценции для порошковой среды при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 1995. - Т. 61, № 9. - С. 17-20.
Финкельштейн А.Л. К расчету интенсивности рентгеновской флуоресценции и рассеянного первичного излучения при рентгенофлуоресцентном анализе пульп // Заводская лаборатория. - 1990. - Т. 56, № 4. - С. 33-37.
Финкельштейн А.Л. Рентгенофлуоресцентный анализ некоторых силикатных материалов с использованием объемного дозирования при гомогенизации // Журнал аналитической химии. - 1992. - Т. 47, № 9. - С. 1709-1711.
Финкельштейн А.Л., Афонин В.П. К учету поглощения излучения рентгеновских трубок в аноде прострельного типа // Заводская лаборатория. - 1986. - Т. 52, № 8. - С. 25-27.
Финкельштейн А.Л., Афонин В.П. Раздельный учет эффектов поглощения и вторичной флуоресценции при рентгенофлуоресцентном анализе // Журнал аналитической химии. -1993. - Т. 48, № 9. - С.1526-1530.
Финкельштейн А.Л., Афонин В.П., Гуничева Т.Н. Оценка эффектов рассеяния первичного и вторичного излучения с учетом анизотропии в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. - 1985. - Т. 51, № 12. - С. 20.
Финкельштейн А.Л. Гунич Т.В. Сравнение некоторых версий коэффициентов ослабления используемых в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. - 1997. - № 2. - С.15-17.
Финкельштейн А.Л., Гуничева Т.В. Сравнение некоторых версий коэффициентов ослабления, используемых в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 1997. - Т. 63, № 2. - С. 15.
Финкельштейн А.Л., Гуничева Т.Н. Общее описание зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции от размера частиц порошковых проб и пульпы при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. - 2007. - Т.73, № 11. - С. 21-24.
Финкельштейн А.Л., Гуничева Т.Н., Афонин В.П. Учет матричных эффектов методом альфа-коррекции при рентгенофлуоресцентном анализе // Журнал аналитической химии. - 1984. - Т. 39, № 3. - С. 397-401.
Финкельштейн А.Л., Гуничева Т.Н., Афонин В.П., Микрюков В.Г. Алгоритм коррекции на матричные эффекты при рентгенофлуоресцентном анализе сталей // Журнал аналитической химии. - 1990. - Т. 45, № 3. - С. 527-534.
Финкельштейн А.Л., Гуничева Т.Н., Афонин В.П., Парадина Л.Ф., Пискунова Л.Ф. Расчет спектрального распределения первичного излучения при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. - 1981. - Т. 47, № 11. - С. 28-31.
Финкельштейн А.Л., Дергин А.А., Непомнящих А.И., Коновалова А.В. Определение соотношения оксидов лития и бора в боратах лития по измерениям рассеянного излучения рентгеновской трубки на рентгенофлуоресцентном спектрометре // Аналитика и контроль. - 2020. - Т. 24, № 1. - С. 15-20.
Финкельштейн А.Л., Дергин А.А., Непомнящих А.И., Амосова А.А., Чубаров В.М. Рентгенофлуоресцентное определение содержания бора в стеклах боратов лития // Физика и химия стекла. - 2022. - Т. 48, № 1. - С. 10-15.
Финкельштейн А.Л., Павлова Т.О. О расчете спектрального распределения излучения рентгеновских трубок в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. - 1996. - Т. 62, № 12. - С. 16-20.
Финкельштейн А.Л., Почуев Н.М., Павлов Л.Ю., Шипицын Г.А., Солнцева И.А. Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL 9800 TAXA с дифракционным каналом: определение криолитового отношения алюминиевых ванн // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - № 7. - С. 73-76.
Финкельштейн А.Л., Фарков П.М. Аппроксимации коэффициентов ослабления рентгеновского излучения в области энергии 0.1-100 кэВ // Аналитика и контроль. - 2002. - Т. 6, № 4. - С. 377-382.
Финкельштейн А.Л., Сычева В.И., Чубаров В.М., Канева Е.В., Пеллинен В.А. Рентгенофлуоресцентное определение основных элементов хромовых руд в прессованных порошковых пробах // Журнал Сибирского федерального университета. Химия. - 2023. - Т. 16, № 1. - С. 116-126.